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专利状态
多通道射线检查设备
有效
专利申请进度
申请
2020-11-19
申请公布
2022-05-20
授权
2024-03-15
预估到期
2040-11-19
专利基础信息
申请号 CN202011305516.9 申请日 2020-11-19
申请公布号 CN114518606A 申请公布日 2022-05-20
授权公布号 CN114518606B 授权公告日 2024-03-15
分类号 G01V5/22;G01N23/04;G01N23/10
分类 测量;测试;
申请人名称 同方威视技术股份有限公司
申请人地址 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层
专利法律状态
  • 2024-03-15
    授权
    状态信息
    授权
  • 2022-05-20
    公布
    状态信息
    公布
摘要
提供一种射线检查设备,包括:多个检查通道、扫描装置、驱动装置和控制器。多个检查通道并排布置,每个检查通道适用于承载被检查的目标。扫描装置包括:安装在所述多个检查通道的外部的辐射源;以及安装在所述多个检查通道的外部、并适用于接收从所述辐射源发射的辐射束的接收装置。驱动装置适用于驱动所述辐射源和接收装置移动到每个所述检查通道的附近。控制器适用于控制移动到所述多个检查通道中的一个检查通道的附近的扫描装置对所述一个检查通道内的目标进行扫描检查。多个检查通道可以共用一个扫描装置,可以对每个检查通道中的被检查目标进行独立扫描检查。