安检数据关联方法和装置、以及X射线安检系统

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专利状态

安检数据关联方法和装置、以及X射线安检系统

有效

专利申请进度

申请

2021-06-09

申请公布

2021-12-07

授权

2023-08-11

预估到期

2041-06-09

专利基础信息

申请号	CN202110645865.3	申请日	2021-06-09
申请公布号	CN113759431A	申请公布日	2021-12-07
授权公布号	CN113759431B	授权公告日	2023-08-11
分类号	G01V5/00
分类	测量；测试;
申请人名称	同方威视技术股份有限公司
申请人地址	北京市海淀区双清路同方大厦A座2层

专利法律状态

2023-08-11

授权

状态信息

授权
2021-12-24

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效；IPC(主分类):G01V5/00；申请日:20210609
2021-12-07

公布

状态信息

公布

摘要

本发明提供安检数据关联方法和装置、以及X射线安检系统。该安检数据关联方法，包括：从在X射线安检装置的入口处采集的入口处视频中提取人体图像和包裹外观图像，并将同一包裹的人体图像和包裹外观图像进行关联；跟踪入口处视频中的每一个包裹，得到各个包裹的运动轨迹；根据运动轨迹，将同一包裹的包裹外观图像和X光图像进行关联；以及经由包裹外观图像，将同一包裹所对应的人体图像、包裹外观图像和X光图像进行关联。

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