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专利状态
安全检查系统
有效
专利申请进度
申请
2017-01-25
申请公布
2017-04-26
授权
2023-10-31
预估到期
2037-01-25
专利基础信息
申请号 CN201710063780.8 申请日 2017-01-25
申请公布号 CN106596601A 申请公布日 2017-04-26
授权公布号 CN106596601B 授权公告日 2023-10-31
分类号 G01N23/10
分类 测量;测试;
申请人名称 同方威视技术股份有限公司
申请人地址 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层
专利法律状态
  • 2023-10-31
    授权
    状态信息
    授权
  • 2017-05-24
    实质审查的生效
    状态信息
    实质审查的生效;IPC(主分类):G01N23/10;申请日:20170125
  • 2017-04-26
    公布
    状态信息
    公布
摘要
本发明提供一种安全检查系统,该安全检查系统包括:支撑主体,包括第一检测通道和第二检测通道;第一射线发射装置,能够向第一检测通道和第二检测通道发射检测射线;第一探测器装置,第一探测器装置的多个探测器模块对应于第一射线发射装置设置于所述第一检测通道和第二检测通道中;第二射线发射装置,能够分别向第一检测通道和第二检测通道发射检测射线的方式设置于第一检测通道和第二检测通道的上方或下方;第二探测器装置,第二探测器装置的第一组探测器模块对应于第二射线发射装置设置于第一检测通道中,第二组探测器模块对应于第二射线发射装置设置于第二检测通道中。能够实现便于对检测物品进行物质识别、提高判图效率。