判断电子元件在静电放电后的电流-电压测试结果的方法

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专利状态

判断电子元件在静电放电后的电流-电压测试结果的方法

有效

专利申请进度

申请

2019-08-16

申请公布

2021-02-23

授权

2024-02-23

预估到期

2039-08-16

专利基础信息

申请号	CN201910757267.8	申请日	2019-08-16
申请公布号	CN112394275A	申请公布日	2021-02-23
授权公布号	CN112394275B	授权公告日	2024-02-23
分类号	G01R31/28;G01R19/00
分类	测量；测试;
申请人名称	环旭电子股份有限公司
申请人地址	上海市浦东新区张江高科技园区集成电路产业区张东路1558号

专利法律状态

2024-02-23

授权

状态信息

授权
2021-03-12

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效；IPC(主分类):G01R31/28；申请日:20190816
2021-02-23

公布

状态信息

公布

摘要

本发明提供的判断电子元件在静电放电后的电流‑电压测试结果的方法，主要是在该电子元件完成静电放电之前，针对该电子元件的引脚测量出多个电流‑电压的数据，并将该多个数据标记于以电流值为横坐标、电压值为纵坐标的二维图表中形成电流‑电压标准曲线；接着再定义合格区间，该合格区间是以各个标记点为中心画出矩形框或圆形框，并将该矩形框或圆形框的外缘进行连线而形成合格区间；在该电子元件完成静电放电之后，取得该电子元件的引脚的电流‑电压测量曲线；最后再以目视的方式判断该电流‑电压测量曲线是否超出合格区间。

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