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专利状态
一种计算机硬盘批量测试装置
有效
专利申请进度
申请
2015-05-18
授权
2015-09-16
预估到期
2025-05-18
专利基础信息
申请号 CN201520321362.0 申请日 2015-05-18
授权公布号 CN204650510U 授权公告日 2015-09-16
分类号 G06F11/26
分类 计算;推算;计数;
申请人名称 深圳市金泰克半导体有限公司
申请人地址 广东省深圳市龙华新区观澜桂花社区观光路美泰科技园4号厂房第7层
专利法律状态
  • 2015-09-16
    授权
    状态信息
    授权
摘要
本实用新型公开了一种计算机硬盘批量测试装置,其包括有:多个计算机、多个继电器及一主控单元,多个计算机的地址码不同,所述计算机上设有待测硬盘,所述计算机的操作系统安装于该待测硬盘下,所述计算机用于当其上电时启动操作系统,并在进入操作系统后发出地址码;所述继电器与计算机一一对应,所述继电器的开关触点串接于计算机的电源回路;所述主控单元用于接收计算机发出的地址码,记录与该地址码所对应的计算机的启动次数,并控制与该计算机所对应的继电器的开关触点先断开再闭合。上述测试装置在计算机、继电器和主控单元的共同作用下,能够对每台计算机进行自动测试,不仅提高了测试效率,还降低了人工成本。