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专利状态
自动测试切换装置、方法和系统
有效
专利申请进度
申请
2019-07-05
申请公布
2019-11-15
授权
2021-02-26
预估到期
2039-07-05
专利基础信息
申请号 CN201910604913.7 申请日 2019-07-05
申请公布号 CN110459260A 申请公布日 2019-11-15
授权公布号 CN110459260B 授权公告日 2021-02-26
分类号 G11C29/56
分类 信息存储;
申请人名称 深圳市金泰克半导体有限公司
申请人地址 广东省深圳市坪山区龙田街道长方照明工业厂区厂房B一、四层
专利法律状态
  • 2024-03-12
    专利权质押登记、变更及注销
    状态信息
    专利权质押登记;IPC(主分类):G11C29/56;登记号:Y2024980005570;登记日:20240223;出质人:深圳市金泰克半导体有限公司;质权人:徽商银行股份有限公司深圳分行;发明名称:自动测试切换装置、方法和系统;申请日:20190705;授权公告日:20210226
  • 2021-02-26
    授权
    状态信息
    授权
  • 2019-12-10
    实质审查的生效
    状态信息
    实质审查的生效;IPC(主分类):G11C29/56;申请日:20190705
  • 2019-11-15
    公布
    状态信息
    公布
摘要
本申请涉及硬件测试领域,提出一种自动测试切换装置、方法和系统,自动测试方法以测试终端内自启动测试模块对存储装置进行测试,所述测试终端内包括多个所述自启动测试模块,包括步骤:配置切换装置,在连接于所述测试终端的状态下能自动生成输入至所述测试终端的切换指令;将所述切换装置连接于所述测试终端以向所述测试终端输入切换指令;根据输入的所述切换指令执行自启动测试模块的切换。可根据获取的自动切换装置生成的切换指令,测试终端可以实施自动切换,不需要操作人员再以外接输入装置进行手动控制。