一种计算机硬盘批量测试装置及测试方法

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专利状态

一种计算机硬盘批量测试装置及测试方法

有效

专利申请进度

申请

2015-05-18

申请公布

2015-08-19

授权

2019-03-05

预估到期

2035-05-18

专利基础信息

申请号	CN201510253284.X	申请日	2015-05-18
申请公布号	CN104850474A	申请公布日	2015-08-19
授权公布号	CN104850474B	授权公告日	2019-03-05
分类号	G06F11/22
分类	计算；推算；计数;
申请人名称	深圳市金泰克半导体有限公司
申请人地址	广东省深圳市龙华新区观澜桂花社区观光路美泰科技园4号厂房第7层

专利法律状态

2019-03-05

授权

状态信息

授权
2015-09-16

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/22申请日:20150518
2015-08-19

公布

状态信息

公开

摘要

本发明公开了一种计算机硬盘批量测试装置，其包括有：多个计算机、多个继电器及一主控单元，多个计算机的地址码不同，所述计算机上设有待测硬盘，所述计算机的操作系统安装于该待测硬盘下，所述计算机用于当其上电时启动操作系统，并在进入操作系统后发出地址码；所述继电器与计算机一一对应，所述继电器的开关触点串接于计算机的电源回路；所述主控单元用于接收计算机发出的的地址码，记录与该地址码所对应的计算机的启动次数，并控制与该计算机所对应的继电器的开关触点先断开再闭合。上述测试装置在计算机、继电器和主控单元的共同作用下，能够对每台计算机进行自动测试，不仅提高了测试效率，还降低了人工成本。

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