定位故障内存颗粒所在rank的方法、装置、存储介质

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专利状态

定位故障内存颗粒所在rank的方法、装置、存储介质

有效

专利申请进度

申请

2019-08-21

申请公布

2020-01-21

授权

2021-04-27

预估到期

2039-08-21

专利基础信息

申请号	CN201910775867.7	申请日	2019-08-21
申请公布号	CN110718262A	申请公布日	2020-01-21
授权公布号	CN110718262B	授权公告日	2021-04-27
分类号	G11C29/18;G11C29/44
分类	信息存储;
申请人名称	深圳市金泰克半导体有限公司
申请人地址	广东省深圳市坪山区龙田街道长方照明工业厂区厂房B一、四层

专利法律状态

2021-04-27

授权

状态信息

授权
2020-02-21

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效
2020-01-21

公布

状态信息

公布

摘要

本申请涉及一种定位故障内存颗粒所在rank的方法、装置、存储介质，所述方法包括：获取rank映射表，获取目标双rank内存条上目标故障内存颗粒对应的报错地址，根据rank映射表获取报错地址中的rank地址位，获取报错地址中的rank地址位对应的取值得到目标故障内存颗粒所在rank对应的rank地址，根据目标故障内存颗粒所在rank对应的rank地址和rank映射表定位目标故障内存颗粒在目标双rank内存条上所在的rank。通过本申请的方法，能够快速定位故障内存条上的故障内存颗粒在故障内存条上的哪个rank上。

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