硬盘性能检测方法、装置、系统、存储介质及电子装置

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专利状态

硬盘性能检测方法、装置、系统、存储介质及电子装置

有效

专利申请进度

申请

2020-11-17

申请公布

2021-02-12

授权

2023-08-29

预估到期

2040-11-17

专利基础信息

申请号	CN202011290877.0	申请日	2020-11-17
申请公布号	CN112363901A	申请公布日	2021-02-12
授权公布号	CN112363901B	授权公告日	2023-08-29
分类号	G06F11/34;G06F11/30
分类	计算；推算；计数;
申请人名称	浙江大华技术股份有限公司
申请人地址	浙江省杭州市滨江区滨安路1187号

专利法律状态

2023-08-29

授权

状态信息

授权
2021-03-05

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效；IPC(主分类):G06F11/34；申请日:20201117
2021-02-12

公布

状态信息

公布

摘要

本发明实施例提供了一种硬盘性能检测方法、装置、系统、存储介质及电子装置，其方法包括：获取第一指令，其中，第一指令用于请求目标硬盘执行目标处理；获取第一指令的第一信息；基于硬盘信息将第一指令发送给目标硬盘；获取到目标硬盘在基于第一指令执行完目标处理之后，返回的第一指令响应；获取第一指令响应的第二信息；基于第一发送时间与第二发送时间的时间差以及处理量确定目标硬盘的性能。通过本发明，解决了相关技术中硬盘性能检测不准确的问题，进而达到了提高硬盘性能检测准确性的效果。

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