半导体测试设备的信号校准方法、系统及计算机设备

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专利状态

半导体测试设备的信号校准方法、系统及计算机设备

有效

专利申请进度

申请

2023-01-29

申请公布

2023-03-14

授权

2023-09-01

预估到期

2043-01-29

专利基础信息

申请号	CN202310043567.6	申请日	2023-01-29
申请公布号	CN115792769A	申请公布日	2023-03-14
授权公布号	CN115792769B	授权公告日	2023-09-01
分类号	G01R35/00;G06F18/15;G06F18/22
分类	测量；测试;
申请人名称	苏州华兴源创科技股份有限公司
申请人地址	江苏省苏州市苏州工业园区青丘巷8号

专利法律状态

2023-09-01

授权

状态信息

授权
2023-03-14

公布

状态信息

公布

摘要

本申请涉及一种半导体测试设备的信号校准方法、系统及计算机设备。一个实施例中，通过将测试设备众多通道的采样数据传输给可编程逻辑控制器，可编程逻辑控制器可以解析得到每个目标通道的采样数据，再进一步根据每个目标通道的输出电路对采样数据逆运算得到可利用的还原数据，根据校准算法可以由还原数据得到校准值。这样，可以通过在可编程逻辑控制器中预先设置相应的程序对多个目标通道的数据同时进行解析和还原，并快速计算校准值，大大加快了测试设备的信号校准速度，提升了校准效率，为后续的测试过程提供更充裕的时间。

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