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专利状态

一种旋转下压探针机构

有效

专利申请进度

申请

2016-06-21

申请公布

2016-10-12

授权

2019-04-19

预估到期

2036-06-21

专利基础信息

申请号	CN201610453402.6	申请日	2016-06-21
申请公布号	CN106019016A	申请公布日	2016-10-12
授权公布号	CN106019016B	授权公告日	2019-04-19
分类号	G01R31/00;G01R1/02
分类	测量；测试;
申请人名称	苏州赛腾精密电子股份有限公司
申请人地址	江苏省苏州市吴中区东吴南路4号

专利法律状态

2019-04-19

授权

状态信息

授权
2016-11-09

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/00申请日:20160621
2016-10-12

公布

状态信息

公开

摘要

本发明涉及电子测试设备技术领域，尤其涉及一种旋转下压探针机构。一种旋转下压探针机构，包括：旋转机构、定位机构和下压探针机构，所述定位机构分别连接旋转机构和下压探针机构，所述旋转机构至少在下压旋转过程中抵压在下压探针机构上以带动下压探针机构下压至检测点，且所述旋转机构的旋转运行轨迹的最低点由定位机构限制。通过包括旋转块和等高柱的旋转机构和具有等高斜面的下压探针机构的结构，使得所述等高柱与等高斜面的斜坡相配合，以旋转的方式进行测试，有效的防止测试头经常损坏，解决了现有技术经常更换测试头的问题，且测试稳定性好，操作方便，探针寿命长。

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