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专利状态
一种光学检测调整装置
有效
专利申请进度
申请
2022-09-06
授权
2023-03-24
预估到期
2032-09-06
专利基础信息
申请号 CN202222369761.7 申请日 2022-09-06
授权公布号 CN218726676U 授权公告日 2023-03-24
分类号 G01N21/84;G01N21/01
分类 测量;测试;
申请人名称 武汉精测电子集团股份有限公司
申请人地址 湖北省武汉市东湖新技术开发区流芳园南路22号
专利法律状态
  • 2023-03-24
    授权
    状态信息
    授权
摘要
本实用新型公开了一种光学检测调整装置,属于光学仪器位置调整技术领域,包括连有光学镜头的光学检测设备,用于放置光学检测设备的放置架,与该放置架相连的第一位移调节机构,与第一位移调节机构相连的第二位移调节机构,二者用于光学检测设备在第一方向和第二方向上的位移;设置在放置架与第一位移调节机构之间的第一角度调节机构,设置在第一位移调节机构与第二位移调节机构之间的第二角度调节机构,二者用于光学检测设备在第一平面和第二平面内的转动。该光学检测调整装置可实现其在第一方向、第二方向上的位移调节以及第一平面和第二平面的角度调节,实现光学检测设备位置和角度调节的多样性和便利性,提高光学检测设备的检测效率。