一种X射线双能量透射与康普顿背散射图像智能融合方法

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专利状态

一种X射线双能量透射与康普顿背散射图像智能融合方法

有效

专利申请进度

申请

2009-10-13

申请公布

2010-04-21

授权

2011-08-17

预估到期

2029-10-13

专利基础信息

申请号	CN200910235409.0	申请日	2009-10-13
申请公布号	CN101696947A	申请公布日	2010-04-21
授权公布号	CN101696947B	授权公告日	2011-08-17
分类号	G01N23/04;G01N23/203
分类	测量；测试;
申请人名称	北京中盾安民分析技术有限公司
申请人地址	北京市海淀区首都体育馆南路1号

专利法律状态

2011-08-17

授权

状态信息

授权
2010-06-02

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效IPC(主分类):G01N 23/04申请日:20091013
2010-04-21

公布

状态信息

公布

摘要

本发明一种X射线双能量透射与康普顿背散射图像智能融合方法涉及辐射检测技术领域的X射线双能量透射与康普顿背散射图像的智能融合技术，主要解决目前检测图像显示中缺乏多种信息融合于一幅图像同时显示的技术问题。本发明主要以图像配准技术为基础，利用信息融合技术，将X射线双能量透射图像与康普顿背散射图像结合起来，充分发挥各自优势，在一幅融合图像上同时表示出来自被检行李的多方面信息，从而组成一个更加简单实用的融合图像显示与分析平台。本发明适于需要快速准确获得被检测行李信息的安检检测显示设备中，尤其适于灵敏检测低原子序数高密度物质的设备。

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