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专利状态

一种CT探测装置

有效

专利申请进度

申请

2015-03-04

授权

2015-07-15

预估到期

2025-03-04

专利基础信息

申请号	CN201520126092.8	申请日	2015-03-04
授权公布号	CN204479498U	授权公告日	2015-07-15
分类号	G01N23/04;G01V5/00
分类	测量；测试;
申请人名称	北京中盾安民分析技术有限公司
申请人地址	北京市海淀区首体南路1号

专利法律状态

2015-07-15

授权

状态信息

授权

摘要

本实用新型公开了一种CT探测装置，所述探测装置包括高能探测层和低能探测层，在高能探测层与低能探测层之间设有金属过滤片，在高能探测层与低能探测层上若干个高能探测器与低能探测器分别被排列成若干排，且高能探测器排与排之间的间距与低能探测器排与排之间的间距不等；在每排的探测器与低能探测器中分别设有若干个高能探测器与低能探测器，且每排高能探测器中每个高能探测器之间的间距与每排低能探测器中每个低能探测器之间的间距不等；高能探测器与高能PCB电路板连接，低能探测器与低能PCB电路板连接，CB电路板与控制电路连接。采用本实用新型所述的一种CT探测装置可以大幅降低探测器的成本，以高能稀疏为例，预计降幅在30％以上。

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