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专利状态
一种用于CT检测设备的探测装置的设计方法
有效
专利申请进度
申请
2015-10-21
申请公布
2015-12-30
授权
2018-07-06
预估到期
2035-10-21
专利基础信息
申请号 CN201510685633.5 申请日 2015-10-21
申请公布号 CN105204080A 申请公布日 2015-12-30
授权公布号 CN105204080B 授权公告日 2018-07-06
分类号 G01V5/00
分类 测量;测试;
申请人名称 北京中盾安民分析技术有限公司
申请人地址 北京市海淀区首体南路1号
专利法律状态
  • 2018-07-06
    授权
    状态信息
    授权
  • 2016-01-27
    实质审查的生效
    状态信息
    实质审查的生效IPC(主分类):G01V 5/00申请日:20151021
  • 2015-12-30
    公布
    状态信息
    公开
摘要
本发明涉及安检技术领域,具体涉及一种用于CT检测设备的探测装置的设计方法。所述设计方法包括以下步骤:1)设计正多边形定位线:在通道的圆周面外侧设计正多边形定位线;2)设计X射线源:将X射线源设在正多边形定位线外,使X射线源的出射狭缝的中心轴线经过正多边形的中心;3)设计探测器组:将若干个探测器组的一个端点,依次约束在正多边形定位线上,使若干个探测器组和X射线源在通道两侧相向设置;4)设计探测器臂架:将若干个臂架单元按照所述正多边形的几何规则组合连接形成探测器臂架;5)设计前准直栅格和后准直栅格;6)设计正多边形的探测器箱体。所述方法实现了所述探测装置小型化,成本低,密封效果好,检测精度高的效果。