双能量X射线安全检查设备的材料校准系统及校准方法

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专利状态

双能量X射线安全检查设备的材料校准系统及校准方法

有效

专利申请进度

申请

2010-11-04

申请公布

2011-05-11

授权

2013-02-13

预估到期

2030-11-04

专利基础信息

申请号	CN201010531710.9	申请日	2010-11-04
申请公布号	CN102053096A	申请公布日	2011-05-11
授权公布号	CN102053096B	授权公告日	2013-02-13
分类号	G01N23/04
分类	测量；测试;
申请人名称	北京中盾安民分析技术有限公司
申请人地址	北京市海淀区首都体育馆南路1号46号分箱

专利法律状态

2013-02-13

授权

状态信息

授权
2011-06-29

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效IPC(主分类):G01N 23/04申请日:20101104
2011-05-11

公布

状态信息

公开

摘要

本发明属于安全检查领域，提供一种双能量X射线安全检查设备的材料校准系统及校准方法，所述系统包括依次连接的：材料测试箱、图像采集模块、自动校准模块、训练校准模块及材料表生成模块。所述图像采集模块采集材料测试箱图像，然后通过自动校准模块对图像进行分析，提取图像中有机玻璃、硬铝和低碳钢不同厚度的高低能数据，由材料表生成模块自动生成材料表，调试人员检查双能量X射线安全检查系统材料分辨能力是否满足指标，满足则输出材料表，不满足则进入训练校准模块，通过训练校准模块调整自动校准曲线上的个别点上下移动，并生成材料表。本发明实现了材料自动校准，并通过训练校准功能进行辅助，大大提高了现有产品的技术指标。

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