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专利状态
客观评价测试体
有效
专利申请进度
申请
2019-06-27
授权
2020-01-31
预估到期
2029-06-27
专利基础信息
申请号 CN201930337857.6 申请日 2019-06-27
授权公布号 CN305580180S 授权公告日 2020-01-31
分类号 10-05(12)
分类
申请人名称 北京中盾安民分析技术有限公司
申请人地址 北京市海淀区首体南路1号
专利法律状态
  • 2020-01-31
    授权
    状态信息
    授权
摘要
1.本外观设计产品的名称:客观评价测试体。2.本外观设计产品的用途:本外观设计适用于X射线安全检查设备图像性能的客观评价使用。3.本外观设计产品的设计要点:在于形状。4.最能表明设计要点的图片或照片:立体图。