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专利状态
涂胶缺陷检测方法、装置、存储介质及电子设备
有效
专利申请进度
申请
2021-06-25
申请公布
2021-09-03
授权
2023-08-01
预估到期
2041-06-25
专利基础信息
申请号 CN202110712626.5 申请日 2021-06-25
申请公布号 CN113344901A 申请公布日 2021-09-03
授权公布号 CN113344901B 授权公告日 2023-08-01
分类号 G06T7/00;G06T7/70;G06V10/80;G06V10/82;G06N3/0464;G06N3/084
分类 计算;推算;计数;
申请人名称 北京市商汤科技开发有限公司
申请人地址 北京市海淀区北四环西路58号11层1101-1117室
专利法律状态
  • 2023-08-01
    授权
    状态信息
    授权
  • 2021-09-21
    实质审查的生效
    状态信息
    实质审查的生效;IPC(主分类):G06T7/00;申请日:20210625
  • 2021-09-03
    公布
    状态信息
    公布
摘要
本公开涉及涂胶缺陷检测方法、装置、存储介质及电子设备。该方法包括获取目标图像,上述目标图像包括工件的涂胶区域;基于深度神经网络对上述目标图像进行处理,得到上述涂胶区域的预测位置信息;获取上述涂胶区域的标准位置信息;根据上述预测位置信息和标准位置信息,得到涂胶缺陷检测结果。本公开可以基于深度神经网络对目标图像进行自动分割,确定预测位置信息,进而根据该预测位置信息自动快速判断出涂胶缺陷,实现了涂胶缺陷检测的智能化、自动化,并且保证涂胶缺陷检测的准确度。