一种缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质

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专利状态

一种缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质

有效

专利申请进度

申请

2021-01-15

申请公布

2021-05-04

授权

2023-08-11

预估到期

2041-01-15

专利基础信息

申请号	CN202110055119.9	申请日	2021-01-15
申请公布号	CN112750116A	申请公布日	2021-05-04
授权公布号	CN112750116B	授权公告日	2023-08-11
分类号	G06T7/00;G06T7/60;G06V10/46;G06V10/74;G06V10/75
分类	计算；推算；计数;
申请人名称	北京市商汤科技开发有限公司
申请人地址	北京市海淀区北四环西路58号11层1101-1117室

专利法律状态

2023-08-11

授权

状态信息

授权
2021-05-21

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效；IPC(主分类):G06T7/00；申请日:20210115
2021-05-04

公布

状态信息

公布

摘要

本公开提供了一种缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质，其中，该方法包括：获取模板图像、以及待检测图像；基于模板图像、以及待检测图像，生成与待检测图像对应的蒙版图像；蒙版图像中每个第一像素点的像素值，表征位置与每个第一像素点匹配的第二像素点存在缺陷的异常度值；第二像素点为待检测图像中位置与第一像素点匹配的像素点；基于蒙版图像，确定待检测图像的缺陷检测结果。本公开实施例基于模板图像和待检测图像，生成待检测图像对应的蒙版图像，该蒙版图像中的每个第一像素点的像素值，表征了在待检测图像中对应位置的第二像素点是否存在缺陷的异常度值，然后根据蒙版图像，确定待检测图像的检测结果，具有更高的检测精度。

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