一种印制品线状缺陷检测方法

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专利状态

一种印制品线状缺陷检测方法

有效

专利申请进度

申请

2020-12-29

申请公布

2021-04-02

授权

2024-02-27

预估到期

2040-12-29

专利基础信息

申请号	CN202011589738.8	申请日	2020-12-29
申请公布号	CN112598659A	申请公布日	2021-04-02
授权公布号	CN112598659B	授权公告日	2024-02-27
分类号	G06T7/00
分类	计算；推算；计数;
申请人名称	凌云光技术股份有限公司
申请人地址	北京市海淀区翠湖南环路13号院7号楼7层701室

专利法律状态

2024-02-27

授权

状态信息

授权
2021-04-23

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效；IPC(主分类):G06T7/00；申请日:20201229
2021-04-02

公布

状态信息

公布

摘要

本申请提供一种印制品线状缺陷检测方法，获取模板图像和缺陷图像；对模板图像和缺陷图像的RGB通道逐行卷积；对模板图像RGB通道卷积结果和缺陷图像RGB通道卷积结果进行二值化，确定目标图像；对每一个目标图像进行图像变换，确定第一方向二值模板图像对应第一方向模板特征图像、第二方向二值模板图像对应第二方向模板特征图像、第一方向二值缺陷图像对应第一方向缺陷特征图像、第二方向二值缺陷图像对应第二方向缺陷特征图像；当第一方向缺陷特征图像和第一方向模板特征图像对比出现新的特征峰值且第二方向缺陷特征图像和第二方向模板特征图像对比出现新的特征峰值，则判定缺陷图像中的缺陷为线状缺陷；能够提高缺陷检测精度，消除缺陷类型的误报。

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