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专利状态
一种外观缺陷检测方法及系统
有效
专利申请进度
申请
2020-09-07
申请公布
2020-11-24
授权
2024-02-20
预估到期
2040-09-07
专利基础信息
申请号 CN202010930373.4 申请日 2020-09-07
申请公布号 CN111986195A 申请公布日 2020-11-24
授权公布号 CN111986195B 授权公告日 2024-02-20
分类号 G06T7/00;G06T7/12;G06T7/62;G06N3/08
分类 计算;推算;计数;
申请人名称 凌云光技术股份有限公司
申请人地址 北京市海淀区翠湖南环路13号院7号楼7层701室
专利法律状态
  • 2024-02-20
    授权
    状态信息
    授权
  • 2020-12-11
    实质审查的生效
    状态信息
    实质审查的生效;IPC(主分类):G06T7/00;申请日:20200907
  • 2020-12-11
    著录事项变更
    状态信息
    著录事项变更;IPC(主分类):G06T7/00;变更事项:申请人;变更前:北京凌云光技术集团有限责任公司;变更后:凌云光技术股份有限公司;变更事项:地址;变更前:100094 北京市海淀区翠湖南环路13号院7号楼7层701室;变更后:100094 北京市海淀区翠湖南环路13号院7号楼7层701室
  • 2020-11-24
    公布
    状态信息
    公布
摘要
本申请公开了一种外观缺陷检测方法,包括:对于所有待检测对象,采用预定的筛选策略进行外观缺陷筛选,筛选出确定没有缺陷的待检测对象和疑似具有缺陷的待检测对象;对于所述疑似具有缺陷的待检测对象,采用深度学习技术进行识别,区分出具有真缺陷的待检测对象和具有假缺陷的待检测对象;对于所述具有真缺陷的待检测对象,区分缺陷类别后予以输出。进一步的,采用去帽二值化方法进行外观缺陷筛选,或者采用相移二值化方法进行外观缺陷筛选。该检测方法的设计能够对于缺陷的成像要求不高,并且不要求缺陷明显,无须定制光源,因而能够有效避免误检及漏检的发生。此外,本申请还公开了一种外观缺陷检测系统。