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专利状态
一种克服物体厚度影响的X光检测方法
有效
专利申请进度
申请
2016-01-05
申请公布
2016-06-08
授权
1970-01-01
预估到期
2036-01-05
专利基础信息
申请号 CN201610011598.3 申请日 2016-01-05
申请公布号 CN105651793A 申请公布日 2016-06-08
授权公布号 CN105651793B 授权公告日 1970-01-01
分类号 G01N23/04
分类 测量;测试;
申请人名称 合肥泰禾智能科技集团股份有限公司
申请人地址 安徽省合肥市肥西县紫蓬工业聚集区方兴大道与森林大道交口
专利法律状态
  • 2021-01-22
    专利权人的姓名或者名称、地址的变更
    状态信息
    专利权人的姓名或者名称、地址的变更;IPC(主分类):G01N 23/04;专利号:ZL2016100115983;变更事项:专利权人;变更前:合肥泰禾光电科技股份有限公司;变更后:合肥泰禾智能科技集团股份有限公司;变更事项:地址;变更前:230000 安徽省合肥市肥西县紫蓬工业聚集区方兴大道与森林大道交口;变更后:230000 安徽省合肥市肥西县紫蓬工业聚集区方兴大道与森林大道交口
  • 2019-04-02
    发明专利权授予
    状态信息
    授权
  • 2016-07-06
    实质审查的生效
    状态信息
    实质审查的生效;IPC(主分类):G01N 23/04;申请日:20160105
  • 2016-06-08
    发明专利申请公布
    状态信息
    公布
摘要
本发明公开一种克服物体厚度影响的X光检测方法,所用设备包括X光机、双能探测器、传送装置、数据处理系统和显示系统,其中,X光机用于提供成像所需的光照,双能探测器用于采集高低能图像,传送装置用于运输成像物体,数据处理系统用于图像的处理,显示系统用于图像的显示,本发明同时采集低能和高能X光图像,再利用吸收系数与能量间的关系,获得与厚度信息无关的图像,克服了物体厚度对检测结果的影响,本发明将在公共安全、食品检测、垃圾分选等领域发挥重要作用。