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专利状态

芯片测试治具及系统

有效

专利申请进度

申请

2020-06-03

授权

2020-12-29

预估到期

2030-06-03

专利基础信息

申请号	CN202020991989.8	申请日	2020-06-03
授权公布号	CN212255582U	授权公告日	2020-12-29
分类号	G01R31/28;G01R1/04
分类	测量；测试;
申请人名称	格科微电子（上海）有限公司
申请人地址	上海市浦东新区盛夏路560弄2号楼11F

专利法律状态

2020-12-29

授权

状态信息

授权

摘要

一种芯片测试治具及系统，所述芯片测试治具，包括：测试板，所述测试板上设置有芯片放置区域，所述芯片放置区域设置有测试触点及真空孔，其中：所述真空孔用于连接抽真空装置，以通过所述真空孔内的真空吸力将待测试芯片吸附于所述芯片放置区域，当所述待测试芯片被吸附时，所述测试触点与所述待测试芯片的引脚接触。上述方案，能够提高芯片测试治具的通用性。

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