一种自适应光强的CCD光电探测器积分时间控制方法

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专利状态

一种自适应光强的CCD光电探测器积分时间控制方法

有效

专利申请进度

申请

2019-11-21

申请公布

2020-02-18

授权

2021-07-16

预估到期

2039-11-21

专利基础信息

申请号	CN201911146493.9	申请日	2019-11-21
申请公布号	CN110806264A	申请公布日	2020-02-18
授权公布号	CN110806264B	授权公告日	2021-07-16
分类号	G01J3/02;G05B13/04
分类	测量；测试;
申请人名称	中电科思仪科技股份有限公司
申请人地址	山东省青岛市黄岛区香江路98号

专利法律状态

2021-07-16

授权

状态信息

授权
2021-07-02

著录事项变更

状态信息

著录事项变更；IPC(主分类):G01J3/02；专利申请号:2019111464939；变更事项:申请人；变更前:中电科仪器仪表有限公司；变更后:中电科思仪科技股份有限公司；变更事项:地址；变更前:266000 山东省青岛市黄岛区香江路98号；变更后:266000 山东省青岛市黄岛区香江路98号
2020-03-13

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效；IPC(主分类):G01J3/02；专利申请号:2019111464939；申请日:20191121
2020-02-18

公布

状态信息

公布

摘要

本发明属于光电测试技术领域，涉及一种CCD光电探测器积分时间控制方法。一种自适应光强的CCD光电探测器积分时间控制方法，包括（1）：设置初始积分时间为ti，其中，tmin＜ti＜tmax；（2）：采集光谱信号[s1，s2…，sm]，计算光谱信号均值savg；（3）：采集和计算光谱噪声σdark；（4）：判断savg与δ·σdark的大小关系，δ为暗噪声影响因子：若savg＜δ·σdark，设置积分时间为tj，tmin＜tj＜tmax，且tj≠ti，并转至步骤（1）；若savg≥δ·σdark，先进行光谱信号去噪，再进行积分时间设置。本发明的方法，根据光照强度自适应的调整积分时间，同时考虑暗噪声对输出信号的影响自适应的调整积分时间，速度快、精度高具有自适应性，可应用于自动测试、快速测试等场景。

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