一种提高微波网络测量与校准精度的外置式装置及方法

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专利状态

一种提高微波网络测量与校准精度的外置式装置及方法

有效

专利申请进度

申请

2020-08-31

申请公布

2020-12-08

授权

2023-08-25

预估到期

2040-08-31

专利基础信息

申请号	CN202010895367.X	申请日	2020-08-31
申请公布号	CN112051534A	申请公布日	2020-12-08
授权公布号	CN112051534B	授权公告日	2023-08-25
分类号	G01R35/00
分类	测量；测试;
申请人名称	中电科思仪科技股份有限公司
申请人地址	山东省青岛市黄岛区香江路98号

专利法律状态

2023-08-25

授权

状态信息

授权
2020-12-08

公布

状态信息

公布

摘要

本发明提供了一种提高微波网络测量与校准精度的外置式装置及方法，装置包括控制电路和校准数据存储单元、温度检测电路、定向耦合电桥单元、宽带微波电子同步开关单元和自动单端口电子校准单元；控制电路和校准数据存储单元分别与温度检测电路、宽带微波电子同步开关单元和自动单端口电子校准单元相连。定向耦合电桥单元与宽带微波电子同步开关单元相连，宽带微波电子同步开关单元与自动单端口电子校准单元及测试端口相连。本发明可根据测量需要实时消除或减小矢量网络分析仪在测试过程中，测试电缆或者其它中间设备等组成测试通道的部件由于温度漂移以及重复连接等因素引起的测量误差，是提升矢量网络分析仪测量精度的一种有效手段。

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