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专利状态
多通道射线检查设备
有效
专利申请进度
申请
2020-11-19
申请公布
2022-05-24
授权
2023-10-13
预估到期
2040-11-19
专利基础信息
申请号 CN202011306389.4 申请日 2020-11-19
申请公布号 CN114527516A 申请公布日 2022-05-24
授权公布号 CN114527516B 授权公告日 2023-10-13
分类号 G01V5/00;G01N23/04;G01N23/10;CN104170051A,2014.11.26;CN106841249A,2017.06.13;CN1711561A,2005.12.21;US2006245548A1,2006.11.02;US2010142672A1,2010.06.10;US2011129063A1,2011.06.02;CN109407163A,2019.03.01;CN104950338A,2015.09.30;CN107490805A,2017.12.19;CN2085
分类 测量;测试;
申请人名称 同方威视技术股份有限公司
申请人地址 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层
专利法律状态
  • 2023-10-13
    授权
    状态信息
    授权
  • 2022-06-10
    实质审查的生效
    状态信息
    实质审查的生效;IPC(主分类):G01V5/00;申请日:20201119
  • 2022-05-24
    公布
    状态信息
    公布
摘要
一种射线检查设备,包括:固定框架、多个检查通道、扫描装置和控制器。固定框架具有大致的圆环形。多个检查通道在所述固定框架的内部沿周向方向布置,每个检查通道适用于承载被检查的目标。扫描装置包括:辐射源2,安装在所述固定框架的中心,所述辐射源产生的辐射束能够辐射到每个检查通道;以及接收装置,以在所述周向方向上延伸的方式安装在所述固定框架上,并适用于接收穿过每个所述检查通道的所述辐射束。控制器适用于控制所述扫描装置对依次对每个检查通道内的目标进行扫描检查。多个检查通道可以共用一个扫描装置,在每个检查通道中都可以对被检查目标进行独立扫描检查。