不良LED处理方法、系统、设备及计算机可读存储介质

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专利状态

不良LED处理方法、系统、设备及计算机可读存储介质

有效

专利申请进度

申请

2019-04-28

申请公布

2020-10-30

授权

2023-06-20

预估到期

2039-04-28

专利基础信息

申请号	CN201910351854.7	申请日	2019-04-28
申请公布号	CN111842184A	申请公布日	2020-10-30
授权公布号	CN111842184B	授权公告日	2023-06-20
分类号	B07C5/02;B07C5/36;G06Q10/0639;G06Q50/04
分类	将固体从固体中分离；分选;
申请人名称	深圳市聚飞光电股份有限公司
申请人地址	广东省深圳市龙岗区平湖街道鹅公岭社区鹅岭工业区4号

专利法律状态

2023-06-20

授权

状态信息

授权
2021-10-22

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效；IPC(主分类):B07C5/02；申请日:20190428
2020-10-30

公布

状态信息

公布

摘要

本发明实施例提供一种不良LED处理方法、系统、设备及计算机可读存储介质，通过单号扫描仪获取LED产品的流程单号，接收输入的至少一个不良项目信息，并以流程单号为单位统计LED产品中LED在各质量因素方面的不良情况，从而使得最终的不良统计结果能够以流程单号为单位获取，使得对LED不良情况的统计可以追溯至对应的LED产品，实现LED产品中不良情况的统计分析，统计结果分类更加细致；另外，对不良LED的统计计数技术不再依赖于人工的称重计数，提升了统计结果的准确性。本发明实施例还提供不良LED处理系统、设备及计算机可读存储介质，能够为不良LED出现原因的分析以及LED产品生产工艺的改进提供更可靠的数据依据，提升生产效率。

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