一种全站仪及放样测量装置

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专利状态

一种全站仪及放样测量装置

有效

专利申请进度

申请

2014-06-19

授权

2015-01-07

预估到期

2024-06-19

专利基础信息

申请号	CN201420329074.5	申请日	2014-06-19
授权公布号	CN204085515U	授权公告日	2015-01-07
分类号	G01C15/00
分类	测量；测试;
申请人名称	苏州一光仪器有限公司
申请人地址	江苏省苏州市通园路18号

专利法律状态

2015-01-07

授权

状态信息

授权

摘要

本实用新型实施例提供一种全站仪及放样测量装置，该全站仪，包括用于发射测距光信号至放样指示器的目标棱镜的光信号发射组件和用于计算放样误差数据的放样误差计算单元，所述光信号发射组件与所述放样误差计算单元相电性连接，用于发射经过调制后，至少加载了所述放样误差数据后的通信光信号至所述放样指示器，以便所述放样指示器根据所述通信光信号获取所述放样误差数据。

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