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专利状态
一种多层电路板测试结构
有效
专利申请进度
申请
2019-12-23
授权
2020-07-07
预估到期
2029-12-23
专利基础信息
申请号 CN201922338162.7 申请日 2019-12-23
授权公布号 CN210958960U 授权公告日 2020-07-07
分类号 H05K1/02;H05K1/11
分类 其他类目不包含的电技术;
申请人名称 东莞市五株电子科技有限公司
申请人地址 广东省东莞市石碣镇刘屋科技中路161号
专利法律状态
  • 2020-07-07
    授权
    状态信息
    授权
摘要
本实用新型公开了一种多层电路板测试结构,每层电路板的表面设有至少一个导电层;导电层包括:用于开设第一测试孔的第一测试区域,所有导电层通过第一测试孔电性连接;镂空并露出基材的用于开设第二测试孔的第二测试区域,第二测试孔贯穿多层电路板。当该多层电路板没有短路问题时,第二测试孔穿过所有的第二测试区域,第一测试孔和第二测试孔之间开路。当该多层电路板存在孔与相邻线路之间的短路问题时,第二测试孔会偏离出这一层电路板的第二测试区域,导致第二测试孔内会与这一层电路板的导电层导通,因此第一测试孔和第二测试孔之间存在短路现象,以此判断该多层电路板存在短路问题,防止其流出至下一工序。