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专利状态

闪存芯片测试架

有效

专利申请进度

申请

2014-08-29

授权

2015-01-14

预估到期

2024-08-29

专利基础信息

申请号	CN201420498131.2	申请日	2014-08-29
授权公布号	CN204102121U	授权公告日	2015-01-14
分类号	G06F12/02
分类	计算；推算；计数;
申请人名称	深圳市嘉合劲威电子科技有限公司
申请人地址	广东省深圳市龙岗区坂田街道马安堂社区龙景工业区F栋5楼502

专利法律状态

2015-01-14

授权

状态信息

授权

摘要

一种闪存芯片测试架，包括一第一测试板及一第二测试板，第一测试板与第二测试板上均装设有若干排插接座及若干开关，每一开关与一对应的插接座电连接，每一个插接座上插接有一测试座，每一测试座上能够安装一闪存芯片，第一测试板的一侧与第二测试板的一侧均装设有若干电源接口与若干USB接口，每一电源接口能够与一外部电源线相连以给对应的一排插接座供电，每一USB接口能够向外传输对应的一排插接座上的测试座上的闪存芯片的测试数据，该第一测试板与第二测试板的电源接口及USB接口均朝向同一方向，该第二测试板的高度与该第一测试板的高度不同，使得连接于第一测试板与第二测试板的线缆可以分隔开，方便操作与整理。

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