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专利状态

内存芯片测试装置

有效

专利申请进度

申请

2022-10-12

授权

2023-01-06

预估到期

2032-10-12

专利基础信息

申请号	CN202222677617.X	申请日	2022-10-12
授权公布号	CN218240316U	授权公告日	2023-01-06
分类号	G01R31/28;G01R1/04
分类	测量；测试;
申请人名称	深圳市嘉合劲威电子科技有限公司
申请人地址	广东省深圳市坪山区龙田街道老坑社区锦绣中路19号美讯数码科技厂区1号厂房B1202A

专利法律状态

2023-01-06

授权

状态信息

授权

摘要

本实用新型公开一种内存芯片测试装置，其中，内存芯片测试装置包括机架、定位治具、压合机构及测试组件。机架设有第一滑轨槽；定位治具设于机架且沿第一方向延伸设置，并设有供内存芯片放置的测试空间；压合机构上设有抵接件，压合机构滑动连接于第一滑轨槽，以使抵接件在测试空间上方随压合机构滑动而升降；测试组件包括测试板和控制板，控制板设于机架，测试板插接于定位治具并位于测试空间的下侧，测试板电性连接控制板。本实用新型技术方案涉及内存芯片测试技术领域，将待测芯片容置于定位治具内的测试空间，通过压合机构使其抵接测试组件并进行测试，优化内存芯片测试流程，提高内存芯片测试效率。

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