一种基于多线程技术提高芯片测试效率的方法

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专利状态

一种基于多线程技术提高芯片测试效率的方法

有效

专利申请进度

申请

2019-09-29

申请公布

2021-03-30

授权

2022-06-28

预估到期

2039-09-29

专利基础信息

申请号	CN201910931907.2	申请日	2019-09-29
申请公布号	CN112578260A	申请公布日	2021-03-30
授权公布号	CN112578260B	授权公告日	2022-06-28
分类号	G01R31/28
分类	测量；测试;
申请人名称	北京君正集成电路股份有限公司
申请人地址	北京市海淀区西北旺东路10号院东区东区14号楼君正大厦

专利法律状态

2022-06-28

授权

状态信息

授权
2021-03-30

公布

状态信息

公布

摘要

本发明提供一种基于多线程技术提高芯片测试效率的方法，包括：S1建立所需所有测试项；S2建立多测试站点测试；S3获取每个测试项执行时各阶段的测试时间；S4合并调整优化测试项，使各测试项的Upload、Calc和Judge的总和时间等于与其Setup和Meas的总和时间；S5根据测试站点个数建立线程池；S6从线程池创建主线程，并在创建主线程前申请并开辟专属数据空间，各测试项的Meas阶段时向此空间写入获取的数据，Upload阶段读取此空间的数据并通过总线上传给工作站进行处理；S7启动并运行主线程执行测试项1的Setup及Meas阶段；S8根据步骤S6的设置，执行的线程调度，这样以此类推，依次完成所有测试站点所有测试项的测试；S9最后同步各测试站点子线程并释放回收完成整个测试流程。

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