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专利状态
一种检测方法、装置、电子设备及存储介质
有效
专利申请进度
申请
2021-07-28
申请公布
2021-09-03
授权
2021-11-23
预估到期
2041-07-28
专利基础信息
申请号 CN202110853695.8 申请日 2021-07-28
申请公布号 CN113344917A 申请公布日 2021-09-03
授权公布号 CN113344917B 授权公告日 2021-11-23
分类号 G06T7/00;G06T7/73;H04M1/24
分类 计算;推算;计数;
申请人名称 浙江华睿科技股份有限公司
申请人地址 浙江省杭州市滨江区滨安路1181号A幢8层
专利法律状态
  • 2021-11-23
    授权
    状态信息
    授权
  • 2021-09-21
    实质审查的生效
    状态信息
    实质审查的生效;IPC(主分类):G06T7/00;申请日:20210728
  • 2021-09-03
    公布
    状态信息
    公布
摘要
本申请提供了一种检测方法,包括:基于待检测目标的点云数据集,确定待检测目标的深度图像;基于待检测目标的深度图像,确定待检测目标的至少一个几何特征;将待检测目标的至少一个几何特征与检测模板的至少一个几何特征相匹配,确定待检测目标的坐标信息;基于待检测目标的坐标信息,确定所述待检测目标的至少一个测量子区域,以及所述至少一个测量子区域对应的点云数据;基于至少一个测量子区域对应的点云数据,以及所述至少一个测量子区域所对应的检测区域的检测方式,对所述待检测目标进行检测;本申请还提供一种检测装置、电子设备和存储介质,通过本申请提供的检测方法、装置、电子设备及存储介质,可以提升检测准确率。