集成测试板卡、芯片测试系统及芯片测试方法

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专利状态

集成测试板卡、芯片测试系统及芯片测试方法

有效

专利申请进度

申请

2021-04-07

申请公布

2021-08-06

授权

2024-03-12

预估到期

2041-04-07

专利基础信息

申请号	CN202110372517.3	申请日	2021-04-07
申请公布号	CN113219319A	申请公布日	2021-08-06
授权公布号	CN113219319B	授权公告日	2024-03-12
分类号	G01R31/28
分类	测量；测试;
申请人名称	苏州华兴源创科技股份有限公司
申请人地址	江苏省苏州市苏州工业园区青丘巷8号

专利法律状态

2024-03-12

授权

状态信息

授权
2021-08-24

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效；IPC(主分类):G01R31/28；申请日:20210407
2021-08-06

公布

状态信息

公布

摘要

本申请涉及芯片测试技术领域，具体公开一种集成测试板卡、系统及测试方法。装置包括中断产生模块、主控模块及功能测试模块：中断产生模块用于在接收到测试终端发出的测试指令时，产生第一中断触发信号；主控模块响应于第一中断触发信号，获取与测试指令对应的测试参数信息，并根据测试参数信息配置功能测试模块，以使功能测试模块对待测芯片进行测试；主控模块还用于在功能测试模块测试完毕后产生应答指令，并发送应答指令至中断产生模块；中断产生模块还用于在接收到应答指令时，产生第二中断触发信号，并发送第二中断触发信号至测试终端，以通知测试终端获取测试结果。上述集成测试板卡节约了测试终端大量的资源，有利于实现高效稳定的测试。

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