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专利状态
一种用于LCM的检测支架及其应用
有效
专利申请进度
申请
2017-06-29
申请公布
2017-09-01
授权
2023-12-15
预估到期
2037-06-29
专利基础信息
申请号 CN201710514848.X 申请日 2017-06-29
申请公布号 CN107121800A 申请公布日 2017-09-01
授权公布号 CN107121800B 授权公告日 2023-12-15
分类号 G02F1/13
分类 光学;
申请人名称 武汉精测电子集团股份有限公司
申请人地址 湖北省武汉市洪山区南湖大道53号洪山创业中心四楼
专利法律状态
  • 2023-12-15
    授权
    状态信息
    授权
  • 2018-01-30
    著录事项变更
    状态信息
    著录事项变更;IPC(主分类):G02F1/13;变更事项:申请人;变更前:武汉精测电子技术股份有限公司;变更后:武汉精测电子集团股份有限公司;变更事项:地址;变更前:430070 湖北省武汉市洪山区南湖大道53号洪山创业中心四楼;变更后:430070 湖北省武汉市洪山区南湖大道53号洪山创业中心四楼
  • 2017-09-26
    实质审查的生效
    状态信息
    实质审查的生效;IPC(主分类):G02F1/13;申请日:20170629
  • 2017-09-01
    公布
    状态信息
    公布
摘要
本发明公开了一种用于LCM的检测支架,包括支架底板以及设置在支架底板上的支架本体,所述支架本体可相对支架底板转动;所述支架本体上设置有多个沿支架本体竖直方向并排布置的托板,所述托板靠近支架底板的末端设有垂直于支架本体的凸起;所述托板不与支架底板接触;所述支架底板与支架本体之间还设有角度调节机构,包括设置在支架本体上的角度调整旋转轴、角度调整件以及设置在支架底板上的角度调整固定件;所述角度调整件固定端可绕角度调整旋转轴旋转,角度调整件的移动端由角度调整固定件固定。本发明技术方案还公开了其在LCM检测中的应用。本发明技术方案中的支架,可以实现多尺寸LCM检测,避免了检测盲区;还可以实现检测角度的精细调节。