一种基于特征分子量内标定量分析的DNA荧光光谱采集方法

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专利状态

一种基于特征分子量内标定量分析的DNA荧光光谱采集方法

有效

专利申请进度

申请

2014-12-02

申请公布

2015-03-25

授权

2017-01-18

预估到期

2034-12-02

专利基础信息

申请号	CN201410722583.9	申请日	2014-12-02
申请公布号	CN104458686A	申请公布日	2015-03-25
授权公布号	CN104458686B	授权公告日	2017-01-18
分类号	G01N21/64
分类	测量；测试;
申请人名称	北京中盾安民分析技术有限公司
申请人地址	北京市海淀区首体南路1号

专利法律状态

2017-01-18

授权

状态信息

授权
2015-04-22

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效IPC(主分类):G01N 21/64申请日:20141202
2015-03-25

公布

状态信息

公开

摘要

本发明公开了一种基于特征分子量内标定量分析的DNA荧光光谱采集方法，所述方法为：一边对同时包含内标加样分子量标准物DNA片段和未知DNA片段长度信息的检测样品进行数据采集，一边对正在采集到的原始数据进行实时处理。首先进行引物峰识别，然后对引物峰之后所采集的信号逐点进行光谱校正，并对相应的内标通道信号进行峰识别与特征分子量峰匹配，直至提取内标最大分子量的特征峰，最终根据该最大特征分子量对应的峰位置，确定DNA荧光光谱数据采集的结束时刻。所述方法可节省DNA荧光光谱数据采集时间，继而节约源头数据所占用的内存，减少后续的数据处理量，最终提高DNA鉴定工作效率。

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