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专利状态
一种双通道双视角X射线安检设备
有效
专利申请进度
申请
2018-08-21
授权
2019-07-19
预估到期
2028-08-21
专利基础信息
申请号 CN201821349910.0 申请日 2018-08-21
授权公布号 CN209132182U 授权公告日 2019-07-19
分类号 G01N23/04;G01V5/00
分类 测量;测试;
申请人名称 北京中盾安民分析技术有限公司
申请人地址 北京市海淀区首都体育馆南路1号
专利法律状态
  • 2019-07-19
    授权
    状态信息
    授权
摘要
本实用新型公开了一种双通道双视角X射线安检设备。该安检设备包括第一安检通道和第二安检通道,对应于第一安检通道的第一侧照源和第一顶照源,对应于第二安检通道的第二侧照源和第二顶照源;其中,每个侧照源和顶照源分别对应于一组探测器箱,以完成双视角射线扫描。一方面,本安检设备采用独立的侧照源和顶照源完成双视角射线扫描,使得两个安检通道可以独立运行。另一方面,每个安检通道各使用一个顶照源,使得顶照源的照射角度减小,不仅可以降低X射线源生产制造工艺复杂度和成本,还提高了其可靠性。与现有技术相比较,本安检设备的高度适中,整体外观更加协调美观。