一种测量台阶孔精度的塞规

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专利状态

一种测量台阶孔精度的塞规

有效

专利申请进度

申请

2019-09-24

授权

2020-05-22

预估到期

2029-09-24

专利基础信息

申请号	CN201921591785.9	申请日	2019-09-24
授权公布号	CN210603027U	授权公告日	2020-05-22
分类号	G01B3/26
分类	测量；测试;
申请人名称	苏州英示测量科技有限公司
申请人地址	江苏省苏州市高新区向阳路80号

专利法律状态

2020-05-22

授权

状态信息

授权

摘要

本实用新型提供的一种测量台阶孔精度的塞规，包括匹配于台阶孔的台阶式塞规本体，所述塞规本体的每个台阶面的外壁上均设有测头组，所述测头组自所述塞规本体的内部延伸至其外部，所述测头组的延伸方向垂直于塞规本体的轴向，且所述测头组能够在其延伸方向上伸缩移动，所述测头组均对应连接有量测杆，所述量测杆抵接在所述测头组上并随着所述测头组的移动而移动，所述量测杆的一端与所述测头组连接，另一端连接有用于显示测头组移动距离的测量数值读取装置。本实用新型能够同时检测台阶孔的上台阶面精度，操作便捷，测量效率高，检测精度高。

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