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专利状态
用于小孔径的内孔测量装置
有效
专利申请进度
申请
2022-06-13
授权
2022-11-01
预估到期
2032-06-13
专利基础信息
申请号 CN202221459441.4 申请日 2022-06-13
授权公布号 CN217716363U 授权公告日 2022-11-01
分类号 G01B21/14
分类 测量;测试;
申请人名称 苏州英示测量科技有限公司
申请人地址 江苏省苏州市新区向阳路80号
专利法律状态
  • 2022-11-01
    授权
    状态信息
    授权
摘要
本实用新型公开了用于小孔径的内孔测量装置,包括:测头,所述测头的一端连接有直径和长度之间等比例设置的圆锥部;顶杆,所述顶杆的一端与所述测头远离所述圆锥部的一端抵接;外壳,所述外壳套设于所述顶杆和所述测头外部,所述外壳具有开设有能使所述圆锥部穿过的通孔;位移数显指示表,所述位移数显指示表的位移测量头与所述顶杆远离所述测头的一端抵接。本实用新型圆锥部测量伸入内孔中,并将圆锥部的位移量传输至位移测量头,使得所述数显表可以将内孔径进行显示,整个测量装置仅需将圆锥部伸入内孔中,且通过位移量的传递在内孔之外进行读数,从而可以实现测量孔径很小的内径的效果。