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专利状态
绝对式位置测量装置
有效
专利申请进度
申请
2021-09-02
申请公布
2021-11-23
授权
2022-06-17
预估到期
2041-09-02
专利基础信息
申请号 CN202111025633.4 申请日 2021-09-02
申请公布号 CN113686365A 申请公布日 2021-11-23
授权公布号 CN113686365B 授权公告日 2022-06-17
分类号 G01D5/347
分类 测量;测试;
申请人名称 北京精雕科技集团有限公司
申请人地址 北京市门头沟区石龙工业区永安路10号
专利法律状态
  • 2022-06-17
    授权
    状态信息
    授权
  • 2021-11-23
    公布
    状态信息
    公布
摘要
本发明公开了一种绝对式位置测量装置,包括:绝对码道、增量码道,绝对编码读取模块,用于通过传感单元对绝对码道的码元序列进行扫描,经运算生成最初有效绝对编码;绝对编码校正模块,用于对最初有效绝对编码进行分析运算,得到校正后的最终有效绝对编码,对最终有效绝对编码进行运算或查表,获得粗绝对位置信息;绝对码道增量位置信息生成模块,用于对最初有效绝对编码进行分析运算得到绝对码道单周期内位置信息;初级高分辨率位置信息生成模块,用于将绝对码道单周期内位置信息,结合粗绝对位置信息,得到初级高分辨率绝对位置信息,通过高分辨率绝对位置信息对增量码道进行索引,可获得更高分辨率的位置信息。