缺陷检测方法及装置、电子设备和存储介质

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专利状态

缺陷检测方法及装置、电子设备和存储介质

有效

专利申请进度

申请

2020-10-30

申请公布

2021-03-16

授权

2023-04-18

预估到期

2040-10-30

专利基础信息

申请号	CN202011191756.0	申请日	2020-10-30
申请公布号	CN112508846A	申请公布日	2021-03-16
授权公布号	CN112508846B	授权公告日	2023-04-18
分类号	G06T7/00;G06V10/40;G06V10/74;G06V10/80;G06V10/82
分类	计算；推算；计数;
申请人名称	北京市商汤科技开发有限公司
申请人地址	北京市海淀区北四环西路58号11层1101-1117室

专利法律状态

2023-04-18

授权

状态信息

授权
2021-03-16

公布

状态信息

公布

摘要

本公开提供了一种缺陷检测方法及装置、电子设备和存储介质，其中，该方法包括：获取模板图像的第一特征图、以及待检测图像的第二特征图；针对第一特征图中的每个第一特征点，从第一特征图中的多个第一特征点中，确定与该第一特征点之间的距离满足预设条件的多个关联特征点；针对每个第一特征点，基于确定的该第一特征点的每个关联特征点与第二特征图中的目标第二特征点之间的相似度，对该第一特征点进行特征增强处理；其中，目标第二特征点为第二特征图中位置与该第一特征点匹配的第二特征点；基于所述第二特征图、以及特征增强处理后的所述第一特征图，确定所述待检测图像对应的缺陷检测结果。该过程能够提升对待检测图像的缺陷检测精度。

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