基于单片FPGA支持多个光栅尺的位置测显方法

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专利状态

基于单片FPGA支持多个光栅尺的位置测显方法

有效

专利申请进度

申请

2012-12-28

申请公布

2013-05-01

授权

2015-09-23

预估到期

2032-12-28

专利基础信息

申请号	CN201210584111.2	申请日	2012-12-28
申请公布号	CN103075961A	申请公布日	2013-05-01
授权公布号	CN103075961B	授权公告日	2015-09-23
分类号	G01B11/00;H04L12/40
分类	测量；测试;
申请人名称	广州数控设备有限公司
申请人地址	广东省广州市萝岗区云埔工业区观达路22号

专利法律状态

2015-09-23

授权

状态信息

授权
2013-06-05

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效IPC(主分类):G01B 11/00申请日:20121228
2013-05-01

公布

状态信息

公开

摘要

本发明公开了一种基于单片FPGA支持多个光栅尺的位置测显装置及方法，所述装置包括FPGA、PHY以太网模块、RS485&26LS32模块、RS485&RS232模块、LCD显示接口、FLASH存储器和SDRAM存储器，所述PHY以太网模块、RS485&26LS32模块、RS485&RS232模块、LCD显示接口、FLASH存储器和SDRAM存储器分别与FPGA连接；该装置的测显方法采用软核CPU读取对应各种类型的光栅尺通信协议参数，根据该参数选择光栅尺通信协议的类型。本发明由于采用FPGA内部的光栅尺通信模块，可实现与多个光栅尺高同步、高速度和高精度的通信。

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