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专利状态
待测器件验证装置及相关产品
有效
专利申请进度
申请
2019-06-10
申请公布
2019-09-20
授权
2021-09-21
预估到期
2039-06-10
专利基础信息
申请号 CN201910499933.2 申请日 2019-06-10
申请公布号 CN110261758A 申请公布日 2019-09-20
授权公布号 CN110261758B 授权公告日 2021-09-21
分类号 G06F11/00
分类 测量;测试;
申请人名称 中科寒武纪科技股份有限公司
申请人地址 北京市海淀区科学院南路6号科研综合楼644室
专利法律状态
  • 2021-09-21
    授权
    状态信息
    授权
  • 2020-01-14
    著录事项变更
    状态信息
    著录事项变更;IPC(主分类):G01R31/28;变更事项:申请人;变更前:北京中科寒武纪科技有限公司;变更后:中科寒武纪科技股份有限公司;变更事项:地址;变更前:100000 北京市海淀区科学院南路6号科研综合楼644室;变更后:100000 北京市海淀区科学院南路6号科研综合楼644室
  • 2019-10-22
    实质审查的生效
    状态信息
    实质审查的生效;IPC(主分类):G01R31/28;申请日:20190610
  • 2019-09-20
    公布
    状态信息
    公布
摘要
本申请提供了一种待测器件验证装置及相关产品,该待测器件验证装置用于进行机器状态验证,本申请实施例通过地址依赖树在指令序列中加入探针指令,根据探针指令的执行结果重新对指令序列进行验证,直到获得作导致错误的指令,从而,可准确、快速地对指令序列进行验证,确定导致错误的指令所在的位置,提高待测器件的验证速率。