模型错例的分析方法、装置及电子设备

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专利状态

模型错例的分析方法、装置及电子设备

有效

专利申请进度

申请

2019-11-28

申请公布

2020-04-21

授权

2023-09-26

预估到期

2039-11-28

专利基础信息

申请号	CN201911195171.3	申请日	2019-11-28
申请公布号	CN111046929A	申请公布日	2020-04-21
授权公布号	CN111046929B	授权公告日	2023-09-26
分类号	G06V10/776;G06V10/74;G06V10/762
分类	计算；推算；计数;
申请人名称	北京金山云网络技术有限公司
申请人地址	北京市海淀区小营西路33号金山软件大厦

专利法律状态

2023-09-26

授权

状态信息

授权
2020-05-15

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效；IPC(主分类):G06K9/62；申请日:20191128
2020-04-21

公布

状态信息

公布

摘要

本发明涉及模型错例的分析方法、装置及电子设备。该方法包括：获取错例集，错例集包括多个错判图像，多个错判图像均为基于同一模型的错判案例，模型为使用多个第一样本图像通过机器学习训练得出；提取每个错判图像的特征数据；根据特征数据，获取每个错判图像在错例集中的最相似图像，确定任意两个错判图像之间是否存在最相似关系；根据最相似关系对错例集进行聚类，得到聚类结果，聚类结果包括至少一个团簇，每个团簇对应多个错判图像。

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