一种光源老化试验测量装置_专利查询-品牌网

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专利状态

一种光源老化试验测量装置

有效

专利申请进度

申请

2011-05-11

申请公布

2011-12-21

授权

2016-01-06

预估到期

2031-05-11

专利基础信息

申请号	CN201110122011.3	申请日	2011-05-11
申请公布号	CN102288389A	申请公布日	2011-12-21
授权公布号	CN102288389B	授权公告日	2016-01-06
分类号	G01M11/02
分类	测量；测试;
申请人名称	杭州远方光电信息股份有限公司
申请人地址	浙江省杭州市滨江区滨康路669号

专利法律状态

2016-01-06

授权

状态信息

授权
2012-02-08

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效IPC(主分类):G01M 11/02申请日:20110511
2011-12-21

公布

状态信息

公布

摘要

本发明公开了一种光源老化试验测量装置，装置设有稳定发光的参比光源，在被测光源老化前后，测量仪表通过比较测量参比光源和被测光源的光学参数，以此消除或校正了由测量仪表自身变化而引入的不确定因素，大幅提高了光源老化试验的准确性。

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