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专利状态
一种光谱仪及其校正方法
有效
专利申请进度
申请
2016-04-20
申请公布
2016-09-14
授权
2019-12-17
预估到期
2036-04-20
专利基础信息
申请号 CN201610248470.9 申请日 2016-04-20
申请公布号 CN105938013A 申请公布日 2016-09-14
授权公布号 CN105938013B 授权公告日 2019-12-17
分类号 G01J3/28
分类 测量;测试;
申请人名称 杭州远方光电信息股份有限公司
申请人地址 浙江省杭州市滨江区滨康路669号
专利法律状态
  • 2021-09-14
    专利实施许可合同备案的生效、变更及注销
    状态信息
    专利实施许可合同备案的生效;IPC(主分类):G01J3/28;合同备案号:X2021330000140;让与人:杭州远方光电信息股份有限公司;受让人:远方谱色科技有限公司;发明名称:一种光谱仪及其校正方法;申请日:20160420;申请公布日:20160914;授权公告日:20191217;许可种类:普通许可;备案日期:20210826
  • 2019-12-17
    授权
    状态信息
    授权
  • 2017-01-18
    实质审查的生效
    状态信息
    实质审查的生效;IPC(主分类):G01J3/28;申请日:20160420
  • 2016-09-14
    公布
    状态信息
    公布
摘要
本发明公开了一种光谱仪及其校正方法,包括入射光学单元、入射狭缝、对入射光进行色散的色散单元、用于接收色散光的阵列探测器;还包括宽波段探测器,所述宽波段探测器接收经色散单元衍射形成的零级次光束。此外还通过在宽波段探测器的光电转换元件前设置与V(λ)曲线相匹配的滤色片,利用宽波段探测器测得的光度信息校正阵列探测器的线性,获得被测量的绝对辐射量,进一步提高了光谱仪的线性和测量准确度;此外还可利用阵列探测器测得的相对光谱功率分布对宽波段探测器的光度信息进行光谱失匹配校正,提高光度测量精度。