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专利状态
光子计数校正方法、激光雷达以及计算机可读介质
有效
专利申请进度
申请
2020-06-04
申请公布
2020-09-18
授权
2023-05-05
预估到期
2040-06-04
专利基础信息
申请号 CN202010500856.0 申请日 2020-06-04
申请公布号 CN111679290A 申请公布日 2020-09-18
授权公布号 CN111679290B 授权公告日 2023-05-05
分类号 G01S17/93;G01S7/4863;G01S7/497;G01S7/48;G01J1/44
分类 测量;测试;
申请人名称 上海禾赛科技有限公司
申请人地址 上海市嘉定区新徕路468号园区二号楼
专利法律状态
  • 2023-05-05
    授权
    状态信息
    授权
  • 2020-09-18
    公布
    状态信息
    公布
摘要
本发明公开了一种用于单光子雪崩二极管阵列的光子计数校正方法,包括:通过所述单光子雪崩二极管阵列接收入射光脉冲;根据所述单光子雪崩二极管阵列的输出,获得所述入射光脉冲的光子计数;根据预设条件,校正所述入射光脉冲的光子计数。通过该光子计数校正方法,对于噪声较强和信号较强的情况,能够较好的测算回波信号应有的形状,从而得到更准确的距离和反射率结果,提高激光雷达的探测能力。该光子计数校正方法在硬件上实现简单,计算量小,开销小,对芯片的功耗与面积要求低。可以更准确的还原实际的入射光脉冲信号,从而可以得到更精确的测距信息。