用于激光雷达的光罩脏污检测系统、检测方法及激光雷达

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专利状态

用于激光雷达的光罩脏污检测系统、检测方法及激光雷达

有效

专利申请进度

申请

2020-08-24

申请公布

2020-12-18

授权

2023-05-23

预估到期

2040-08-24

专利基础信息

申请号	CN202010859161.1	申请日	2020-08-24
申请公布号	CN112099044A	申请公布日	2020-12-18
授权公布号	CN112099044B	授权公告日	2023-05-23
分类号	G01S17/88;G01S17/931;G01N21/94;G01N21/01
分类	测量；测试;
申请人名称	上海禾赛科技有限公司
申请人地址	上海市嘉定区新徕路468号园区二号楼

专利法律状态

2023-05-23

授权

状态信息

授权
2020-12-18

公布

状态信息

公布

摘要

本发明提供一种用于激光雷达的光罩脏污检测系统，包括：发射装置，所述发射装置设置在所述激光雷达的光机转子上，配置为可发射与所述激光雷达发出用于检测目标的光束波长不同的探测光束，用于检测所述光罩上的脏污；接收装置，所述接收装置设置在所述激光雷达的光机转子上，配置为可接收所述发射装置发出的探测光束经所述光罩上的脏污反射后的回波并转换为检测电信号；和处理单元，所述处理单元与所述接收装置耦接，配置为可根据所述检测电信号识别所述光罩的脏污状况。通过本发明的实施例，能够有效避免检测光罩脏污时发生光串扰，同时能够实现对光罩的360度检测，增大了光罩脏污的检测范围，并实现了对不同种类脏污的识别，提高了检测效率。

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