测量光电编码器的码盘的角度的方法、电路、设备和介质

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专利状态

测量光电编码器的码盘的角度的方法、电路、设备和介质

有效

专利申请进度

申请

2020-05-29

申请公布

2021-12-03

授权

2023-06-16

预估到期

2040-05-29

专利基础信息

申请号	CN202010476656.6	申请日	2020-05-29
申请公布号	CN113739828A	申请公布日	2021-12-03
授权公布号	CN113739828B	授权公告日	2023-06-16
分类号	G01D5/347;G01B11/26
分类	测量；测试;
申请人名称	上海禾赛科技有限公司
申请人地址	上海市嘉定区新徕路468号园区二号楼

专利法律状态

2023-06-16

授权

状态信息

授权
2021-12-21

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效；IPC(主分类):G01D5/347；申请日:20200529
2021-12-03

公布

状态信息

公布

摘要

本发明提供了一种用于测量光电编码器的码盘的角度的方法、设备、芯片电路和计算机可读存储介质。该方法包括：在该光电编码器的电机开始启动后，检测该码盘的刻度以确定该电机的电角度零位置与该电机在停机状态的电角度之间的角度差来确定该电机的电角度零位置；当该电机转速达到预定转速时，基于该码盘转动时的读码信号确定该码盘的零位置；基于该光电编码器的光电传感器检测到的脉冲的参考时间戳和与该参考时间戳对应的参考角度值确定用于对该码盘的角度进行调节的PID调节值；以及基于该参考时间戳、该参考角度值、该PID调节值以及当前时间戳，确定该码盘的当前角度。

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