带状光纤熔接损耗估算方法及系统

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专利状态

带状光纤熔接损耗估算方法及系统

有效

专利申请进度

申请

2017-12-29

申请公布

2018-06-29

授权

2020-03-24

预估到期

2037-12-29

专利基础信息

申请号	CN201711476168.X	申请日	2017-12-29
申请公布号	CN108227077A	申请公布日	2018-06-29
授权公布号	CN108227077B	授权公告日	2020-03-24
分类号	G02B6/255
分类	光学;
申请人名称	一诺仪器（中国）有限公司
申请人地址	山东省威海市高技区天津路190号院内

专利法律状态

2021-08-27

专利权质押合同登记的生效、变更及注销

状态信息

专利权质押合同登记的生效IPC（主分类）:G02B6/255登记号:Y2021980007538登记生效日:20210810出质人:一诺仪器（中国）有限公司质权人:上海浦东发展银行股份有限公司威海分行发明名称:带状光纤熔接损耗估算方法及系统授权公告日:20200324
2020-03-24

授权

状态信息

授权
2018-07-24

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效IPC（主分类）:G02B 6/255
2018-06-29

公布

状态信息

公布

摘要

本发明提出一种带状光纤熔接损耗估算方法及系统，该方法包括：分析熔接完成后的带状光纤图像，计算光纤熔接点的一定距离范围的曲率参数，所述曲率参数包括：包层上边缘曲率最大值、包层下边缘曲率最大值、纤芯上边缘曲率最大值、纤芯下边缘曲率最大值以及轴心曲率最大值；获取光纤测试结果中可能导致光纤弯曲的致弯参数；将所述致弯参数和曲率参数作为初步自变量，将测试的实际损耗作为因变量，获取若干测试数据作为训练样本，进行线性回归计算，根据自变量与因变量之间的相关系数筛选出其中的优化自变量；根据所述实际损耗和优化自变量构建多元线性回归模型，根据所述多元线性回归模型进行损耗估算。提高损耗估算的准确度。

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